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NI LabVIEW fête ses 25 ans avec une nouvelle version !

Posté le par La rédaction dans Informatique et Numérique

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Outil favori des concepteurs de systèmes de mesure, de test et de contrôle, LabVIEW a beaucoup évolué depuis sa naissance en 1986, avec toujours plus de productivité et de fonctionnalités à chaque nouvelle version. Celle de 2011 n’échappe pas à la règle, mais affiche en plus une maturité qui rime avec fiabilité.

Comme chaque année lors de son événement mondial NIWeek, National Instruments a dévoilé, en août dernier, la nouvelle version de son logiciel de conception graphique : NI LabVIEW 2011. Et comme toujours, les développeurs de NI ont fait en sorte d’augmenter l’efficacité de développement au travers de bibliothèques spécifiques à l’ingénierie, ainsi que sa capacité à interagir avec quasiment n’importe quel matériel ou cible de déploiement, y compris le contrôleur multicœur de la plate-forme NI CompactRIO et l’analyseur de signaux vectoriel RF PXI le plus performant de l’industrie, tous deux introduits également lors de NIWeek.

LabVIEW 2011 se distingue par 13 caractéristiques découlant des retours d’information des utilisateurs, et par des gains de productivité significatifs dans une grande variété de tâches, grâce aux atouts suivants :

  • développement rapide d’interfaces utilisateurs plus modernes, avec unenouvelle palette de commandeset d’indicateurs ;
  • réutilisation du code avec le support des assemblys de .NET, des structures .m et des nouvelles IP de Xilinx pour le Module LabVIEW FPGA ;
  • division par cinq du temps nécessaire au chargement, à la liaison, à l’édition et à la compilation du code FPGA ;
  • construction et distribution par programme d’exécutables sur cibles ;
  • génération de threads asynchrones pour créer plus vite des applications multithreads avec une nouvelle API de communication.

Au-delà de ses améliorations, NI s’est donné les moyens, plus que jamais, de renforcer la stabilité de son logiciel, afin notamment de répondre aux exigences de fiabilité des applications les plus critiques, notamment dans les domaines du test automatique, de la surveillance de structures, des dispositifs médicaux, de la robotique et la mécatronique, de la physique atomique et de l’avionique. C’est ainsi que la version Beta, testée par les utilisateurs, s’est soldée par un nombre retourné de bugs qui n’a jamais été aussi faible.

 

Pour en savoir davantage, visitez www.ni.com/labview/f.

Posté le par La rédaction


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