Article

1 - PHÉNOMÈNES ÉLECTROSTATIQUES

2 - MAGNÉTOSTATIQUE

3 - MÉTHODE DE CALCUL DE GABRIEL KRON. COMMENT CALCULER LES INTERACTIONS DE FAÇON SIMPLE

4 - ONDES GUIDÉES

5 - NOTION DE CHAMP LOINTAIN

6 - PÉNÉTRATION DANS LES BLINDAGES DE CÂBLES. TRAITEMENTS DES BOÎTIERS BLINDÉS

7 - SOURCES DE BRUIT DANS LES CIRCUITS INTÉGRÉS

8 - PRINCIPALES INTERACTIONS DES PARTICULES AVEC LA MATIÈRE

  • 8.1 - Interactions électroniques-ions lourds : notions usuelles
  • 8.2 - Interactions photon-matière
  • 8.3 - Interactions des particules chargées avec la matière
  • 8.4 - Interactions nucléaires hadrons-matière

| Réf : E1302 v1

Compatibilité électromagnétique - Notions fondamentales

Auteur(s) : Olivier MAURICE, Alain REINEIX, Etienne SICARD, Guillaume HUBERT

Date de publication : 10 mai 2011

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RÉSUMÉ

Cet article a pour objectif de rappeler et de fournir les fondamentaux théoriques et pratiques sur la compatibilité électromagnétique (CEM). Sont ainsi abordées les définitions et les descriptions des principales interactions électromagnétiques, depuis les interactions conduites, de champ proche, aux interactions rayonnées en champ lointain. Les mécanismes fondamentaux à la base des interactions entre des particules chargées et des composants, ainsi que les mécanismes de base qui permettent de comprendre les bruits engendrés par les circuits électroniques numériques de grandes tailles, sont détaillés.

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ABSTRACT

Electromagnetic compatibility. Fundamental concepts

This article reviews and presents the basic theoretical and practical aspects of electromagnetic compatibility (EMC). The definitions and descriptions of key electromagnetic interactions are discussed, from near-field to far-field radiation interactions. The fundamental mechanisms underlying the interactions between charged particles and components are described, together with the basic mechanisms that provide an understanding of the noise generated by large-sized digital electronic circuits.

INTRODUCTION

Cette partie a pour objet le rappel de notions fondamentales pour la CEM, qui pourront être utilisées dans l'ensemble des articles traitant de la CEM de projets. Des renvois sont effectués lorsque les notions rejoignent celles des cours d'électromagnétisme pour l'ingénieur. On s'attache ici à rappeler des notions plus spécifiques au métier de la compatibilité électromagnétique. On aborde tout d'abord les principes qui prévalent aux interactions conduites ou de champs proches (interactions électrostatiques, magnétostatiques). Puis on aborde les interactions d'ondes guidées ou rayonnées. Une méthode de calcul dite « méthode de Kron » est présentée dans le paragraphe 3, qui permet de calculer rapidement de nombreux problèmes et d'une façon très efficace. Cette méthode permettra à tout ingénieur d'évaluer des problèmes de CEM déjà complexes et qui ne seraient pas, ou très difficilement, calculables par l'intermédiaire des outils disponibles sur le marché. Comme la méthode est utilisée dans tous les paragraphes comme exemple et support d'exercices, nous la présentons en premier. Enfin nous abordons les effets des particules sur les composants et les approches « CEM » de ces derniers.

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KEYWORDS

EMC   |   Kron's method   |   tensorial analysis of networks

VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-e1302


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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - KRON -   Tensorial Analysis of Networks  -  (1939).

  • (2) - MAURICE (O.) -   La compatibilité électromagnétique des systèmes complexes  -  Hermès-Lavoisier (2007).

  • (3) - ANGOT (A.) -   Compléments de mathématiques pour l'ingénieur  -  Masson (1957).

  • (4) -   *  -  http://www.scilab.org

  • (5) - NOUGIER (J.P.) -   Méthode de calcul numérique  -  Hermès-Lavoisier (2001).

  • (6) - PAUL (C.R.) -   Electromagnetics for Engineer  -  Wiley ( ).

  • (7) - VABRE (J.P.) -   Monographie sur les lignes...

1 Sites Internet

Ibis Spécifications des différentes normes IBIS sur http://www.eda.org/ibis/home/specs/specs.htm (page consultée le 28/10/10)

IEC Spécifications des différentes normes modélisation composants (projet IEC 62433), méthodes de mesure en émission (IEC 61967) et immunité (IEC 62132) sur http://www.iec.ch. Voir détails dans la section « Normes et standards » ci-après (page consultée le 28/10/10)

ITRS The International Technology Roadmap for Semiconductors (ITRS), http://www.itrs.net, version 2009 (page consultée le 28/10/10)

HAUT DE PAGE

2 Normes et standards

International Electrotechnical Commission IEC http://www.iec.ch/

IEC 62433 - (2010) - EMC IC modelling – Part 1 : General modelling framework IEC 62 433-1 47A/840/DTS. - -

IEC 61967-1 - (2002-03) - Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz – Part 1 : General conditions and definitions IEC 61967-1 - -

IEC 61967-1-1 - (2010) - Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions – Part 1-1 : General conditions and definitions – Near-field scan data exchange format IEC/TR 61967-1-1 - -

IEC 61967-1-1 - (2005) - Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions, 150 KHz to 1 GHz – Part 3 : Measurement of radiated emissions – Surface scan method IEC/TS 61967-3 - -

IEC 61967-2 - (2005) - Integrated circuits –...

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