Présentation

Article

1 - TECHNOLOGIE DES COMPOSANTS

2 - MÉTHODES DE MESURE NORMALISÉES

3 - MODÉLISATION DE L'ÉMISSION

4 - MODÉLISATION DE L'IMMUNITÉ DES COMPOSANTS

| Réf : E1318 v1

Modélisation de l'émission
Notions de CEM des composants

Auteur(s) : Étienne SICARD, Frédéric LAFON

Date de publication : 10 mai 2012

Pour explorer cet article
Télécharger l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !

Sommaire

Présentation

Auteur(s)

  • Étienne SICARD : Professeur, INSA de Toulouse

  • Frédéric LAFON : Senior Expert CEM - Responsable de l'activité d'expertise CEM à VALEO

Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.

Lire l’article

INTRODUCTION

Cet article, reprenant et mettant à jour les éléments publiés dans [E 2 475], comprend un approfondissement des notions de sources de bruit et de leur modélisation introduites dans [E 1 302]. L'évolution des technologies de fabrication vers les dimensions nanométriques est détaillée au paragraphe 1 du point de vue de différentes grandeurs physiques et électriques en lien direct avec la compatibilité électromagnétique (CEM) des composants. Nous dressons au paragraphe 2 un état de l'art des méthodes de mesure normalisées applicables aux composants, ainsi que des propositions de normes en matière de modélisation de l'émission et de l'immunité des circuits intégrés. Pour illustrer les aspects modélisation et simulation, nous détaillons aux paragraphes 3 et 4 des cas d'étude concernant l'émission conduite d'un microcontrôleur, l'émission rayonnée d'un amplificateur intégré, ainsi que l'immunité conduite d'un transistor discret et d'un régulateur de tension. L'étude de la susceptibilité présente aussi les notions de comportement « in-band », « out-band » et décrit les différents mécanismes de dégradation de comportement.

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 92% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-e1318


Cet article fait partie de l’offre

Électronique

(242 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

3. Modélisation de l'émission

Nous détaillons dans cette partie les aspects modélisation de l'émission conduite, puis de l'émission rayonnée, au travers de deux cas d'étude. Nous proposons ensuite une extension de la méthode à des composants multipuces.

3.1 Méthodologie d'analyse en mode conduit

Les grands principes de la modélisation de l'émission (ICEM : Integrated Circuit Electromagnetic Model ) ont été décrits en 2004 dans [E 2 475], puis en 2006 dans l'ouvrage de référence en anglais . Différentes approches sont aussi défendues dans le cadre de sessions spécifiques en conférences, ou de workshops spécialisés tels que EMC Compo. La figure 4 résume la méthodologie permettant de simuler l'émission parasite d'un composant d'une part, et de comparer le résultat avec des mesures à l'aide d'un circuit imprimé de test, où le composant sous test est isolé. La simulation comprend un modèle du cœur, en se focalisant sur les parties bruyantes, un modèle du boîtier et du dispositif de mesures. L'approche la plus courante consiste à effectuer une simulation temporelle, et à extraire les signaux au plus proche de la mesure, selon la même unité et la même représentation, afin de faciliter les comparaisons.

Le document IEC 62433-2 propose une structure générique de ce qu'est un modèle d'émission conduite, en s'appuyant sur deux briques principales déjà décrite dans ...

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 92% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Électronique

(242 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

Lecture en cours
Modélisation de l'émission
Sommaire
Sommaire

BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - SICARD (E.), BOYER (A.) -   IC-EMC User's manual version 2.5.  -  ISBN 978-2-87649-056-7 INSA de Toulouse, France (2011).

  • (2) - BOYER (A.), BEN DHIA (S.), SICARD (E.) -   Characterization of the electromagnetic susceptibility of integrated circuits using a near field scan.  -  Electronics Letters, the IEE society, vol. 43, Issue 1, p. 15-16 (2007).

  • (3) - LAFON (F.) -   Développement de techniques et de méthodologies pour la prise en compte des contraintes CEM dans la conception d'équipements du domaine automobile. Étude de l'immunité du composant à l'équipement.  -  Mémoire de thèse de l'INSA, Rennes (2011).

  • (4) - BEN DHIA (S.), RAMDANI (M.), SICARD (E.) -   EMC of Ics : techniques for low emission and susceptibility.  -  Springer, ISBN : 0-387-26600-3, USA (2006).

  • (5) - NDOYE (A.C.), SICARD (E.), LAFON (F.) -   Méthodologie prédictive de l'immunité conduite d'un circuit intégré non linéaire.  -  Colloque CEM2010, Limoges (2010).

  • ...

1 Outils logiciels

INSA Toulouse, octobre 2011, IC-EMC (version pour Windows XP, 7), 135 Av. de Rangueil, 31077 Toulouse, France, logiciel en téléchargement libre sur http://www.ic-emc.org

Sigrity, Campbell, Californie, USA, Logiciel PowerSI, version 10, 2010 (version pour Windows XP), plus d'information sur http://www.sigrity.com

HAUT DE PAGE

2 Sites Internet

Site de l'IEC (International Électrotechnical Commission) : http://www.iec.ch

On y trouve des spécifications des différentes normes modélisation composants (projet IEC 62433), méthodes de mesure en émission (IEC 61967) et immunité (IEC 62132). Voir détails dans la rubrique « Normes et standards » ci-après.

Site de l'ITRS (International Technology Roadmap for Semiconductors), version 2009 http://www.itrs.net

HAUT DE PAGE

3 Événements

Le workshop international EMC Compo a lieu tous les deux ans. Le workshop s'est tenu en novembre 2011 à Dubrovnik ...

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 95% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Électronique

(242 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS