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3. Performances
3.1 Ouverture aux matériaux mauvais conducteurs
La figure 5 montre le spectre de masse issu de l’analyse d’une pointe de silicium intrinsèque (c’est-à-dire Si pur) de résistivité élevée ( 
à 300 K) à comparer à celle du cuivre de l’ordre de 
). On démontre ici que l’emploi d’impulsions lasers permet l’analyse de matériaux dont la résistivité est plusieurs milliards de fois plus élevée que celle des métaux. Notez la présence d’ions...
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