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Innovations technologiques / Référence TI958

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Tomographie à rayons X appliquée à l’étude des matériaux

Référence IN20 | Date de publication : 10 sept. 2004 | Marco DI MICHIEL, Peter CLOETENS, Luc SALVO,, Eric MAIRE,

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Version archivée 1 : 10 sept. 2004

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INTRODUCTION

Les synchrotrons de 3^e génération sont des sources de rayons X extraordinairement puissantes. Ils ont permis le développement d’une nouvelle version haute résolution de la tomographie à rayons X, technique d’imagerie non destructive. Ainsi par exemple, la microstructure interne de matériaux peut être étudiée.

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