1. Problème posé par la résolution d'une structure cristalline
Les fondements de la cristallographie géométrique et de la diffraction des rayons X par les cristaux sont décrits dans [1, 2, 3]
. L'article [4] des Techniques de l'Ingénieur décrit la théorie de la détermination d'une structure cristalline par diffraction des rayons X. Il a notamment été montré que cette détermination passe par le tracé de la carte de densité électronique du cristal puisque les rayons X interagissent avec les électrons. On peut dire en quelque sorte qu'ils les comptent : ceci permet de relier la hauteur d'un pic de densité électronique...
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