3. Le microscope à force atomique et les microscopies de force
Développé par G. Binnig et al. en 1986 [17], le microscope à force atomique (AFM :Atomic Force Microscope) est né des considérations suivantes : les interactions entre pointe et surface dans les conditions d’imagerie STM sont importantes et donnent lieu, selon les distances pointe-surface, à des forces répulsives ou attractives agissant sur la pointe. Par mesure et contrôle de ces forces, un microscope adapté devrait permettre d’imager la topographie de la surface et d’étudier d’autres phénomènes physiques à l’échelle nanométrique. Le microscope AFM, réalisé à partir de cet objectif (figure 13), emprunte la technologie du STM : déplacements à l’échelle subnanométrique, régulation du déplacement relatif pointe-surface à force constante (en place du courant pour le STM). Le capteur de force est constitué d’une fine pointe placée à l’extrémité d’un levier flexible de raideur k, dont...
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