1 - COMPOSANTS ACTIFS DISCRETS

• 1.1 - Mesures des caractéristiques statiques
  Figure 1 - Principe d'un traceur de caractéristiques et allure du courant appliqué sur la base
• 1.2 - Diodes
  Figure 2 - Caractéristique Id en fonction de Vd de la diode Figure 3 - Principe de la mesure de Trr Figure 4 - Forme d'onde de la mesure de Trr Figure 5 - Principe de mesure de rZT
• 1.3 - Transistors
  Figure 6 - Courbe I = f (V ) d'un transistor bipolaire Figure 7 - Montage de test Figure 8 - Schéma de principe pour la mesure des temps de commutation Figure 9 - Mesure des temps de commutation d'un transistor bipolaire de puissance Figure 10 - Régimes de fonctionnement du MOS Figure 11 - MOS de canal N avec ses capacités parasites Figure 12 - Circuit de commande de grille et chronogrammes de VGS , VDS et ID Figure 13 - Modèle simplifié du transistor IGBT Figure 14 - Traînage du courant
• 1.4 - Thyristors et triacs
  Figure 15 - Principe de la mesure de IH Figure 16 - Principe de la mesure de IL Figure 17 - Système de mesure de (dv/dt )c Figure 18 - Dispositif de mesure simplifié du gain d'un amplificateur opérationnel Figure 19 - Dispositif de mesure complété du gain d'un amplificateur opérationnel Tableau 1 - Principaux paramètres caractérisant un triac Tableau 2 - Principales caractéristiques d'un amplificateur opérationnel

2 - TEST DES AMPLIFICATEURS OPÉRATIONNELS ET COMPARATEURS

3 - MESURE DU POINT DE COMPRESSION À 1 DB ET DU POINT D'INTERCEPTION D'ORDRE 3

• 3.1 - Point de compression à 1 dB
  Figure 21 - Définition du point de compression
• 3.2 - Point d'interception d'ordre 3
  Figure 22 - Spectre obtenu au voisinage des fréquences d'entrée f1 et f2 en sortie d'un système non linéaire Figure 23 - Définition du point de compression à 1 dB et du point d'interception d'ordre 3
• 3.3 - Remarques et précautions de mesure

4 - CONVERTISSEUR NUMÉRIQUE-ANALOGIQUE (CNA) ET ANALOGIQUE-NUMÉRIQUE (CAN)

• 4.1 - Principales caractéristiques des CNA et CAN
• 4.2 - Objectif des tests
  Figure 24 - CAN : lois de conversion Figure 25 - Fonction de transfert d'un CNA Figure 26 - Erreurs statiques des CAN Figure 27 - Retard à l'ouverture et Jitter (ou gîte) à l'ouverture Figure 28 - Erreurs dynamiques des CNA Figure 29 - Tests statiques des CAN
• 4.3 - Test des CAN
  Figure 30 - Test en boucle ouverte Figure 31 - Choix de la fréquence d'échantillonnage Figure 32 - Fenêtre d'échantillonnage et transformée de Fourier numérique Figure 33 - Test par histogramme : CAN parfait Figure 34 - Exemple d'un histogramme avec une non-linéarité Figure 35 - Probabilité et densité de probabilité d'un signal sinusoïdal Figure 36 - Mesure de non-linéarité différentielle par test d'histogramme de sinus Test d'un convertisseur 10 bits Figure 38 - Mesure de la gîte à l'ouverture Figure 39 - Histogramme verrouillé Figure 40 - Test par fréquence de battement Figure 41 - Bande passante analogique Figure 42 - Test de l'enveloppe Figure 43 - Test par la meilleure sinusoïde Figure 44 - Analyse fréquentielle Figure 45 - Variation du rapport signal sur bruit en fréquence Figure 46 - Test des CNA
• 4.4 - Test des CNA

5 - TEST DES CIRCUITS INTÉGRÉS NUMÉRIQUES

• 5.1 - Équipement de test
  Figure 47 - Testeur de circuits intégrés
• 5.2 - Réalisation des tests
  Figure 48 - Manifestation des défauts de fabrication Figure 49 - Modélisation des défauts par collage Figure 50 - Augmentation de la consommation Figure 51 - Test de délais
• 5.3 - Test externe
• 5.4 - Test interne – autotest
  Figure 52 - Principe d'un autotest Figure 53 - Couverture de fautes en autotest Figure 54 - Lit de clous
• 5.5 - Test sur carte
• 5.6 - Test périphérique
  Figure 55 - Circuit modifié pour le test périphérique Figure 56 - Test d'une carte par le port JTAG
• 5.7 - Normes dérivées du test périphérique