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  • Physico-chimie des matériaux du patrimoine culturel. Partie 1 | ref : p3780 | sur abonnement

    En mesurant avec un angle rasant on réalise la TXRF ( Total reflection X-Ray Fluorescence analysis

  • Émission X induite par particules chargées (PIXE) : applications | ref : p2558 | sur abonnement

    Utilisation des photons X (XRF et SXRF) Chronologiquement, les photons X constituèrent la première sonde utilisée, ces derniers étant issus de tubes X classiques ... Cette technique (XRF) est aujourd’hui assez répandue sous la forme d’appareils commerciaux vendus clés en main et facilement exploitables

  • Analyse d’aérosols par la méthode PIXE | ref : p4140 | sur abonnement

    Ce qui diffère, ce sont les sections efficaces d’ionisation des interactions photon-électron dans la XRF, d’interactions électron-électron dans la microsonde électronique et particule-électron dans la méthode PIXE ... Par conséquent, plus le spot analysé en XRF est petit, plus la fraction du rayonnement

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Xrf : Compléments bibliographiques

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