Sigle

Signification

AAS

Atomic Absorption Spectrometry

AES

Atomic Emission Spectrometry

AGLAE

Accélérateur Grand Louvre d’Analyse Élémentaire

APCI

Atmospheric Pressure Chemical Ionization

CL

Cathodoluminescence

CPG

Chromatographie en Phase Gazeuse

CPG/SM

CPG couplée à la Spectrométrie de Masse

CT

Tomographie

EDX

Energy Dispersive X-Ray Analysis

EDXRF

Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis

ESRF

European Synchrotron Radiation Facility

EXAFS

Extended X-Ray Absorption Fine Structure

FAB-MS-MS

Fast Atom Bombardment-Mass Spectrometry- Mass Spectrometry

FT-IR

Spectrométrie infrarouge à transformée de Fourier

HPLC

High Performance Liquid Chromatography

IBA

Ion Beam Analysis

ICP

Inductively Coupled Plasma

ICP-AES

Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometry

ICP-MS

Inductively Coupled Plasma-Mass spectrometry

ICP-OES

Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectrometry

IR

Infrarouge

LA

Laser Ablation

LA-ICP-MS

Laser Ablation-Inductively Coupled Plasma-Mass spectrometry

LIF

Luminescence induite par un rayonnement laser

LA-MC-ICP-MS

Laser Ablation-Multi Collector-Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry

MC-ICP-MS

Multi Collector-Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry

MEB

Microscope électronique à balayage

MEB-EDX

Microscope électronique à balayage-Energy Dispersive X-Ray Analysis

MET

Microscope électronique à transmission

MET-EDX

Microscope électronique à transmission-Energy Dispersive X-Ray Analysis

MET-EELS

Microscope électronique à transmission couplé à la spectroscopie de la perte d’energie d’électrons

MS

Mass Spectrometry

NAA

Neutron Activation Analysis

NRA

Nuclear Reaction Analysis

PIGE

Particle Induced γ -Ray Emission

PIXE

Particle Induced X-Ray Emission

PIXE-XRF

X-Ray Fluorescence induced by Particle Induced X-Ray Emission

PL

Photoluminescence

Py-CPG

Pyrolyse-Chromatographie en phase gazeuse

RBS

Rutherford BackScattering

RPE

Résonance paramagnétique électronique

SAED-MET

Selected Area Electron Diffraction-Microscope électronique àtransmission

SIMS

Secondary Ion Mass Spectrometry

Sy-XRF

Fluorescence X induite par rayonnement synchrotron

TIMS

Thermal Ionization Mass Spectrometry

ToF-L-SIMS

Time of Flight-Liquid-Secondary Ion Mass Spectrometry

TRLIF

Luminescence induite par laser résolue en temps

TXRF

Total reflection X-Ray Fluorescence analysis

UV-Vis

Spectroscopie UV-visible

WDXRF

Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence

XAFS

Spectroscopie d’Absorption de Rayons X

XANES

X-Ray Absorption Near Edge Structure

XRD

X-Ray Diffraction

XRF

X-Ray Fluorescence analysis