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Métrologie de l'endommagement laser| Réf : P2870 v1
Auteur(s) : Daniel L'HERMITE, Jean-Baptiste SIRVEN
Date de publication : 10 juin 2015
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Les principales applications de la LIBS sont définies par sa capacité unique à effectuer l'analyse élémentaire de matériaux de toute nature in situ, à distance, ou en ligne. On peut ajouter à cela la possibilité de microanalyse et de cartographie des solides à l'échelle du μm.
6.1.1 Suivi de procédé industriel
Le suivi de procédé industriel constitue l'une des applications de prédilection de la LIBS, généralement associée à l'analyse rapide et à distance. Cependant, il s'agit aussi d'un domaine très difficile en termes d'instrumentation car les exigences de la production industrielle sont très fortes en matière de robustesse (conditions de température, environnements poussiéreux, vibrations...), simplicité d'utilisation par l'opérateur et contraintes de maintenance.
Au niveau du laser, les sources nanoseconde à solide pompé par diodes sont les plus employées pour ce type d'applications. Ces lasers ont une durée de vie plus longue, peuvent fonctionner à plus haute cadence et nécessitent moins de refroidissement que leurs homologues pompés par lampes flash. Ils sont aussi sensiblement plus chers. La longueur d'onde fondamentale est privilégiée car les cristaux non linéaires générant les harmoniques sont source de fluctuations d'énergie, sont sensibles à la thermique et vieillissent rapidement. Enfin, pour analyser des échantillons non préparés, il peut être utile de customiser le laser de sorte qu'il délivre un train d'impulsions visant à nettoyer la surface par quelques tirs préliminaires avant l'analyse proprement dite.
En ce qui concerne le spectromètre, on préfère les technologies sans pièces mobiles, c'est-à-dire les spectromètres de type Échelle ou plus fréquemment Paschen-Runge (§ 3.1.3...
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OPTIQUE PHOTONIQUE
(1) - DEBRAS-GUEDON (J.) et al - De l'utilisation du faisceau d'un amplificateur à ondes lumineuses par émission induite de rayonnement (laser à rubis), comme source énergétique pour l'excitation des spectres d'émission des éléments. - CR Acad. Sci., 257, p. 3336 (1963).
(2) - RADZIEMSKI (L.J.) - From laser to LIBS, the path of technology development. - Spectrochim. Acta. Part. B, 57, p. 1109 (2002).
(3) - BERTHOUD (T.) et al - Recent advances in laser spectroscopy for analysis and control in nuclear industries. - J. Phys. Colloques, 48, p. C7-765 (1987).
(4) - HAHN (D.W.) et al - Laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS), Part I : Review of basic diagnostics and plasma-particle interactions : still-challenging issues within the analytical plasma community. - Appl. Spectrosc., 64, p. 335A (2010).
(5) - HAHN (D.W.) et al - Laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS), Part II : Review of instrumental and methodological approaches to material analysis and applications to different fields. - ...
Détecteurs quantiques pour l'ultraviolet, le visible et le proche infrarouge.
ICP-OES : couplage plasma induit par haute fréquence – Spectrométrie optique.
Limite de détection de méthodes d'analyse et termes apparentés.
Base de données de raies d'émission atomiques http://physics.nist.gov/PhysRefData/Handbook/periodictable.htm http://physics.nist.gov/PhysRefData/ASD/lines_form.html http://www.cfa.harvard.edu/amp/ampdata/kurucz23/sekur.html
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