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Article

1 - PRINCIPES DE LA SPECTROMÉTRIE D’ÉMISSION X

2 - SPECTROMÈTRES DE FLUORESCENCE X USUELS

3 - PRATIQUE DE L’ANALYSE

  • 3.1 - Analyses qualitative, quantitative et semi-quantitative
  • 3.2 - Préparation des échantillons
  • 3.3 - Étalonnage et corrections
  • 3.4 - Opérations automatiques et manuelles

4 - QUE PEUT-ON ATTENDRE DE LA SPECTROMÉTRIE DES RAYONS X ?

5 - EXEMPLES

6 - CONCLUSION

Article de référence | Réf : P2695 v4

Spectromètres de fluorescence X usuels
Spectrométrie d’émission des rayons X. Fluorescence X

Auteur(s) : Jacques DESPUJOLS

Date de publication : 10 sept. 2000

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Auteur(s)

  • Jacques DESPUJOLS : Ingénieur E.C.P., Ingénieur-Docteur, Docteur ès sciences - Ancien Professeur à l’Université de Reims-Champagne-Ardenne

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INTRODUCTION

Depuis 1895, date de la découverte du rayonnement X par W. Röntgen, les nombreux travaux concernant aussi bien l’émission de ce rayonnement que son interaction avec la matière ont conduit au développement de puissantes méthodes d’analyse, utilisables en laboratoire de recherche ou de contrôle, et même dans certains cas in situ.

  • La diffusion des rayons X par la matière permet, notamment par l’observation de phénomènes d’interférence (diffraction), de connaître l’organisation interne de celle-ci, et d’étudier la structure des cristaux et des molécules ; elle permet aussi la détection et l’étude des contraintes et des défauts dans de nombreux matériaux.

  • L’absorption du rayonnement X dépendant non seulement de la nature et, dans une moindre mesure, de la structure des matériaux constituant l’absorbant, mais aussi de la longueur d’onde du rayonnement, les techniques spectrométriques sont utilisées avec profit pour l’analyse chimique élémentaire (analyse par spectrométrie X d’absorption) ainsi que pour l’analyse de structure des molécules (Extended X-ray Absorption Fine Structures, ou EXAFS et X-ray Absorption Near Edge Structures, ou XANES).

  • Mais ce sont les spectres d’émission qui ont conduit aux techniques les plus performantes pour l’analyse qualitative et quantitative élémentaire de la matière solide ou liquide ; les appareils correspondants diffèrent suivant le procédé d’excitation des spectres :

    • l’excitation électronique (on dit aussi cathodique) est utilisée actuellement, essentiellement, dans les microsondes électroniques et dans les microscopes électroniques analytiques, notamment dans les microscopes électroniques à balayage (voir les articles correspondants dans ce traité) ;

    • l’excitation à l’aide d’un tube à rayons X ou de radioéléments a donné lieu à toute une constellation d’appareils d’analyse que nous étudierons dans cet article. Nous verrons que ces appareils, utilisés tout d’abord principalement dans les industries métallurgiques, minières, pétrolières et dans les cimenteries, sont devenus maintenant universels ;

    • enfin d’autres procédés d’excitation, demandant des installations plus lourdes [79] [80], sont aussi utilisés avec succès pour l’analyse.

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VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v4-p2695


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2. Spectromètres de fluorescence X usuels

Les appareils que nous allons décrire sont destinés essentiellement à l’analyse chimique élémentaire qualitative et quantitative ; ils sont dits séquentiels si, dans le cas où plusieurs éléments sont à rechercher ou à doser, l’analyse se fait un élément après l’autre. Ils sont dits simultanés (ou multicanaux) si l’analyse de plusieurs éléments peut se faire en même temps.

2.1 Constitution des spectromètres à dispersion de longueur d’onde

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2.1.1 Spectromètres séquentiels

Ils comprennent une source de rayonnement X primaire, un porte-échantillon, un système dispersif à cristal, un détecteur, ainsi que l’électronique et l’informatique associées (figure 7).

HAUT DE PAGE

2.1.1.1 Source

La source est constituée par un tube à rayons X de grande puissance (1 à 4 kW), refroidi à l’aide d’une circulation d’eau. Le choix de la nature de la cible est important ; le domaine de longueur d’onde le plus favorable à l’excitation d’un élément se trouve immédiatement au-dessous du seuil d’absorption correspondant, mais le rayonnement issu d’un tube à rayons X est complexe et, de plus, il faut veiller à ne pas trop augmenter le rayonnement diffusé (qui constitue un bruit de fond) ni les effets de matrice. On emploie souvent un tube à cible de rhodium, qui permet d’exciter les éléments légers grâce à son spectre L et les éléments plus lourds grâce à son spectre K ; pour les éléments légers, une cible de scandium est souvent le meilleur choix.

La précision et la reproductibilité des mesures d’intensité dépendent de la stabilisation du générateur : la haute tension et l’intensité du courant électronique dans le tube sont stabilisées en général à mieux que 0,01 %.

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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - BIRKS (L.S.) -   X-ray spectrochemical analysis.  -  150 p. 1969 Interscience Publ.

  • (2) - JENKINS (R.), DE VRIES (J.L.)  -   Practical X-ray spectrometry.  -  180 p. 1970 Philips Technical Library et Mac Millan.

  • (3) - JENKINS (R.), DE VRIES (J.L.)  -   Worked exemples in X-ray analysis,  -  129 p. 1970 Philips Technical Library et Mac Millan.

  • (4) - MULLER (R.O.) -   Spectrochemical analysis by X-ray fluorescence.  -  324 p. 1972 Adam Hilger Ltd et Plenum Press.

  • (5) - AZAROFF (L.V.) -   X-ray spectrometry.  -  1974 Mc Graw-Hill.

  • (6) - BERTIN (E.P.) -   Principles and practice of X-ray spectrometric analysis.  -  2e éd. 1975 Heyden and Son Ltd.

  • ...

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