Présentation

Article

1 - PRINCIPES

2 - APPAREILLAGE

Article de référence | Réf : P2755 v2

Appareillage
Spectrométrie d’émission optique à source étincelle (partie 1)

Auteur(s) : Raymond MEILLAND

Date de publication : 10 déc. 2005

Pour explorer cet article
Télécharger l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !

Sommaire

Présentation

RÉSUMÉ

Les techniques de spectrométrie optique (SEO) sont nombreuses et très largement utilisées dans le domaine de l’analyse des matériaux solides et des échantillons liquides. Cet article traite de l’une d’entre elles, la spectrométrie d’émission optique à source étincelle, employée couramment en industrie pour l’analyse des matériaux solides métalliques. Il détaille son principe de fonctionnement, ainsi que son appareillage : statif d’étincelage, système optique de dispersion et de diffraction de la lumière,  système de détection du rayonnement  et traitement des données.

Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.

Lire l’article

Auteur(s)

INTRODUCTION

Dans le domaine de l’analyse chimique, la spectrométrie ou plutôt les spectrométries occupent un espace majeur, aussi bien pour l’analyse des matériaux solides que pour l’analyse des échantillons liquides (voire gazeux dans certains cas). Si l’on se restreint à la spectrométrie d’émission optique (SEO, ou « optical emission spectrometry » : OES), là encore, un ensemble de techniques est concerné, que ce soit la spectrométrie d’émission optique à source plasma (ICP-SEO), plus particulièrement utilisée pour l’analyse des échantillons liquides, la spectrométrie d’émission optique équipée d’une source à décharge luminescente plus orientée aujourd’hui vers le domaine de l’analyse des revêtements ou la spectrométrie d’émission optique à source laser en cours de développement industriel. Quant à la spectrométrie d’émission optique à source étincelle, dans le cadre de son utilisation courante dans l’industrie, elle est couramment appliquée à l’analyse des matériaux solides métalliques.

Cette technique est traitée en deux parties dans les dossiers Spectrométrie d’émission optique à source étincelle (partie 1) et Spectrométrie d’émission optique à source étincelle (partie 2).

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 92% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v2-p2755


Cet article fait partie de l’offre

Techniques d'analyse

(290 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

Lecture en cours
Présentation

2. Appareillage

Un spectromètre d’émission optique est constitué de différentes parties (figure 10) qui sont :

  • le statif d’étincelage (§ 2.1) qui reçoit l’échantillon à analyser et dans lequel est dissipée l’énergie émise par le générateur d’étincelles (§ 2.2) ;

  • le système optique de dispersion et de diffraction de la lumière (§ 2.3) qui sépare la lumière en ses différentes composantes de longueurs d’onde ;

  • le système de détection du rayonnement (§ 2.4), qui transforme la lumière en une information électrique quantifiable, constitué généralement par des photomultiplicateurs ;

  • le système de calcul (§ 2.5) intégrant le modèle mathématique de traitement des données qui fournit les résultats quantifiés de l’analyse.

2.1 Statif d’étincelage

Cette partie du spectromètre, schématisée sur la figure 11, reçoit l’échantillon qui constitue l’une des électrodes du circuit de décharge. Le statif est un sous-ensemble...

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 94% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Techniques d'analyse

(290 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

Lecture en cours
Appareillage
Sommaire
Sommaire

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 93% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Techniques d'analyse

(290 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS