5. Expérimentation et test des circuits à temps négatif numériques
Des expériences et des tests de validation de notre CTN PB numérique ont été effectués. Ces tests sont basés sur l’utilisation du microcontrôleur STM32® fabriqué par STMicroelectronics®. Les résultats de notre étude pratique sont décrits dans la présente section.
La carte Nucleo L476RG intégrant le MCU STM32L476RG fabriqué par STMicroelectronics® a été utilisée pour cette étude pratique
. Le boîtier MCU est un CI à 64 broches. La figure
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Expérimentation et test des circuits à temps négatif numériques
Sources bibliographiques
-
(1) - RAVELO (B.) -
First-order low-pass negative group delay passive topology
.
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Electronics Letters, vol. 52, vo. 2, p. 124-126 (2016).
-
(2) - RAVELO (B.) -
Demonstration...
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