Microscopie SEEC
Microscopie SEEC : la microscopie optique comme outil de caractérisation nanométrique

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NM7500 V1 Article de référence

Microscopie SEEC
Microscopie SEEC : la microscopie optique comme outil de caractérisation nanométrique

Auteur(s) : Nicolas MEDARD, Marie-Pierre VALIGNAT

Date de publication : 10 octobre 2011 | Read in english

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4. Microscopie SEEC

4.1 Principe

Au début des années 2000, une étude menée par Ausserré et Valignat    sur la modélisation du trajet lumineux en lumière polarisée a permis l’élaboration de nouveaux supports répondant à des conditions d’amplification de contraste pour la microscopie optique entre polariseurs croisés....

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