Surfaces amplificatrices
Microscopie SEEC : la microscopie optique comme outil de caractérisation nanométrique

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Surfaces amplificatrices
Microscopie SEEC : la microscopie optique comme outil de caractérisation nanométrique

Auteur(s) : Nicolas MEDARD, Marie-Pierre VALIGNAT

Date de publication : 10 octobre 2011 | Read in english

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2. Surfaces amplificatrices

Peu décrites dans la littérature, les couches minces amplificatrices de signal sont à nouveau mises à l’honneur grâce à l’engouement actuel pour les nanotechnologies. En effet, leur rôle en particulier dans l’instrumentation optique permet à des équipements, jusqu’alors limités à la caractérisation de microstructures, l’accès à l’analyse de structures de dimensions nanométriques.

Les surfaces amplificatrices de signal sont constituées de couches minces et/ou microstructurées qui ont pour effet de transformer les caractéristiques de base du support en vue d’augmenter l’intensité du signal de l’échantillon analysé. Ces surfaces amplificatrices dopent donc les performances des outils de caractérisation nanométrique . En ce sens, elles sont souvent qualifiées de surfaces « intelligentes »...

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