Métallographie par diffraction des rayons X, des électrons et des neutrons

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Métallographie par diffraction des rayons X, des électrons et des neutrons

Auteur(s) : Paul PARNIÈRE

Date de publication : 10 janvier 1983

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Présentation

AUTEUR(S)

  • Paul PARNIÈRE : Ingénieur des Arts et Métiers, Docteur ès Sciences - Chef de Département à l’lRSID

 INTRODUCTION

Bien que l’unité SI de longueur d’onde soit le nanomètre (1 nm = 10 –9 ml. nous avons utilisé, dans cet article, l’angström (1 Å = 10 –10 m = 0,1 nm). celle unité étant du même ordre de grandeur que les distances interatomiques dans les cristaux métalliques,

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https://doi.org/10.51257/a-v1-m100

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