Characterization of defects
Electron Channelling Contrast Imaging Technique (ECCI) and crystalline defects

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Characterization of defects


Electron Channelling Contrast Imaging Technique (ECCI) and crystalline defects

Author : Nabila MALOUFI

Publication date: December 10, 2021 | Lire en français

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4. Characterization of defects

4.1 Image of a dislocation (contrast optimization)

Channelling is achieved for a family of hkl planes when the untilted incident beam falls on the edge of the band (hkl), ideally for s > 0 and far from the intersection of another band edge so that only one diffraction condition is satisfied

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