8. Conclusion
Actuellement, des travaux de recherche dans le domaine de la compatibilité électromagnétique des circuits intégrés sont menés de par le monde pour accompagner cette colossale performance que connaît la microélectronique.
Dans cet article, nous avons tenté de présenter un état de l’art de ce domaine : les modèles des émissions conduites et rayonnées, les méthodes de mesure en émission et en susceptibilité, le modèle en cours de normalisation ICEM, et, enfin, un exemple de caractérisation d’un microcontrôleur avec la notion de logiciels défensifs.
Avec la véritable progression des systèmes de communication sans fil, des performances des puces électroniques, il devient urgent de mettre en place des modèles hautes fréquences (5 GHz et au-delà), pour prédire le niveau d’émission des circuits intégrés...
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