Méthodes de mesure CEM des circuits intégrés
La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés

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Méthodes de mesure CEM des circuits intégrés
La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés

Auteur(s) : Mohamed RAMDANI, Étienne SICARD, Sonia BENDHIA, Sébastien CALVET, Stéphane BAFFREAU, Jean-Luc LEVANT

Date de publication : 10 août 2004

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5. Méthodes de mesure CEM des circuits intégrés

Depuis quelques années, on voit apparaître un certain nombre de techniques de mesure de l’émission électromagnétique des circuits intégrés. Certaines d’entre elles sont devenues des standards internationaux alors que d’autres restent des moyens d’investigation de laboratoire.

Nous exposons ici plusieurs de ces méthodes de mesure.

5.1 Mesure de un ohm

Inspirée de la méthode de mesure proposée par le comité allemand nommé VDE , cette technique normalisée [IEC 61967-4 : Conducted Measurements ] permet de mesurer le courant consommé circulant à travers une broche d’alimentation...

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