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INTRODUCTION
Les synchrotrons de 3
e
génération sont des sources de rayons X extraordinairement puissantes. Ils ont permis le développement d’une nouvelle version
haute résolution
de la tomographie à rayons X, technique d’imagerie non destructive. Ainsi par exemple, la microstructure interne de matériaux peut être étudiée.
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Tomographie à rayons X appliquée à l'étude des matériaux
Pour en savoir plus
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(1) - FELDKAMP (L.A.), DAVIS (L.C.), KRESS (J.W.) -
J. Opt. Soc. Am.,
1
, n
o
6, 612-619 (1984).
-
(2) - CLOETENS (P.), LUDWIG (W.), GUIGAY (J.P.), BARUCHEL (J.), SCHLENKER (M.), VAN DYCK (D.) -...
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