Tomographie à rayons X appliquée à l'étude des matériaux

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Tomographie à rayons X appliquée à l'étude des matériaux

Auteur(s) : Eric MAIRE,, Luc SALVO,, Peter CLOETENS, Marco DI MICHIEL

Date de publication : 10 septembre 2004

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AUTEUR(S)

 INTRODUCTION

Les synchrotrons de 3 e  génération sont des sources de rayons X extraordinairement puissantes. Ils ont permis le développement d’une nouvelle version haute résolution de la tomographie à rayons X, technique d’imagerie non destructive. Ainsi par exemple, la microstructure interne de matériaux peut être étudiée.

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