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INTRODUCTION
Les synchrotrons de 3e génération sont des sources de rayons X extraordinairement puissantes. Ils ont permis le développement d’une nouvelle version haute résolution de la tomographie à rayons X, technique d’imagerie non destructive. Ainsi par exemple, la microstructure interne de matériaux peut être étudiée.
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Tomographie à rayons X appliquée à l'étude des matériaux
Pour en savoir plus
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(1) - FELDKAMP (L.A.), DAVIS (L.C.), KRESS (J.W.) - J. Opt. Soc. Am., 1, no 6, 612-619 (1984).
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(2) - CLOETENS (P.), LUDWIG (W.), GUIGAY (J.P.), BARUCHEL (J.), SCHLENKER (M.), VAN DYCK (D.) - Phase contrast tomography - . In : X-ray tomography in materials science. Baruchel, Buffière, Maire,...
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