Mode de dégradation des technologies d'intégration
Fatigue des composants d'électroniques de puissance - Physique de défaillance

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Mode de dégradation des technologies d'intégration
Fatigue des composants d'électroniques de puissance - Physique de défaillance

Auteur(s) : Mounira BOUARROUDJ-BERKANI, Laurent DUPONT

Date de publication : 10 novembre 2010 | Read in english

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4. Mode de dégradation des technologies d'intégration

4.1 Au niveau de la puce

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4.1.1 Reconstruction de la métallisation

Les contraintes périodiques de compression et d'extension que subit la fine couche de métallisation, lors du cyclage thermique, conduisent à la déformation de cette dernière et à la « reconstruction » des grains d'aluminium qui la constitue. En effet, le silicium est un matériau avec un faible coefficient de dilatation thermique et une forte résistance à la déformation comparativement à l'aluminium caractérisé par une limite élastique relativement basse....

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