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Lucile BECK

Enseignant-chercheur à l’Institut des sciences et techniques nucléaires Commissariat à l’énergie atomique (Saclay)

  • P2558
    Émission X induite par particules chargées (PIXE) : applications

    La technique d'analyse PIXE est en théorie facile à mettre en œuvre. La pratique est plus complexe et repose sur certaines précautions expérimentales. Cet article présente l'instrumentation utilisée par cette technique. Puis il détaille les traitements nécessaires à l’expression des concentrations à partir des résultats expérimentaux et comment la méthode permet de cartographier dans la même analyse, plus d'une dizaine d'éléments. Enfin quelques exemples d'application viennent compléter cette présentation.

  • P2557
    Émission X induite par particules chargées (PIXE) : théorie

    La technique d'analyse PIXE est une méthode d’analyse multiélémentaire très sensible, qui repose sur l’utilisation de particules chargées comme projectiles pour induire l’émission de fluorescence X. Elle est utilisée pour déterminer la présence d’une espèce chimique élémentaire (information en Z) indépendamment de toute influence de son environnement chimique. Cet article présente les bases théoriques de l’émission X induites par des particules chargées.  

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