Christophe DELABIE

Que les composants actifs soient discrets (diodes, transistors) ou intégrés (logiques, analogiques), leur contrôle comporte généralement la vérification des paramètres électriques statiques, le contrôle fonctionnel et la vérification des paramètres dynamiques. Chacune de ces étapes revêt une importance variable selon la finalité du contrôle et le composant concerné. Cet article examine pour chaque famille de semi-conducteurs, donc pour chaque paramètre spécifique (intensité du courant, capacité d’entrée et de sortie, point de compression, résolution, tension de travail…), les mesures à effectuer et les moyens à mettre en œuvre pour les réaliser.

Le gain de performance des appareils électroniques provient beaucoup de l'amélioration des caractéristiques des composants électroniques. Toutefois la vérification des caractéristiques de ces composants est délicate et dépend du type de composant à tester. La mesure des caractéristiques est nécessaire pour définir la fonctionnalité du composant, et pour la mise au point des procédés de fabrication. Pour réaliser les mesures des composants, il existe beaucoup d'appareils de mesure souvent complexes à utiliser. Il importe de choisir l'appareil adéquat et de respecter les précautions de mesures.

Cet article traite exclusivement des mesures sur les composants passifs. La plupart des caractéristiques électriques des composants électroniques dépendent de la fréquence de mesure. Cette dépendance découle d'éléments parasites de type inductance ou capacité. Beaucoup de ces mesures peuvent se faire avec un appareil capable de mesurer l'impédance : pont automatique, mesure I-V ou RF I-V et analyseur de réseau. Ces appareils permettent, à partir d'un modèle choisi par l'utilisateur, de déterminer les valeurs de résistance, capacités et inductance collant le mieux à la mesure.