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R&D engineer, Specialist Statistics and Optimization - Siemens Electronic Design Automation, Montbonnot, France
La réduction d’échelle des circuits dans les dimensions nanométriques entraîne des densités surfaciques de puissances dissipées importantes impactant le fonctionnement des dispositifs. Les méthodes d’analyse, notamment le simulateur AMS/RF, permettent de garantir la robustesse et la fiabilité des phases de production et de vérification.