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Chargé de recherche du CNRS, - Laboratoire de Science et Ingénierie des Matériaux et de Procédés (SIMaP) – UMR CNRS 5266, Université Grenoble Alpes, Saint-Martin-d’Hères, France
La tomographie aux rayons X donne accès de manière non destructive à une visualisation en 3D avec une résolution de l’ordre du micromètre de la distribution des phases dans un échantillon. Le couplage de la technique avec une sollicitation du matériau étudié permet de caractériser finement les interactions entre sollicitation et structure interne. Dans cet article, les différents éléments nécessaires à la tomographie aux rayons X sont présentés, puis quelques exemples d’apport de la tomographie in situ à des problématiques de science des matériaux sont décrits.
Les structures sandwich, de par leur capacité à allier rigidité en flexion et légèreté, sont de plus en plus utilisées. Afin de choisir la structure optimale, il est essentiel de comprendre l'influence des différents paramètres (matériaux et dimensions) sur les propriétés de service mais aussi sur les mécanismes d'endommagements. Cet article détaille un certain nombre de propriétés mécaniques qui caractérisent ce type de panneaux, ainsi que les moyens expérimentaux qui permettent de les identifier.
