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Pierre LHUISSIER

Chargé de recherche du CNRS, - Laboratoire de Science et Ingénierie des Matériaux et de Procédés (SIMaP) – UMR CNRS 5266, Université Grenoble Alpes, Saint-Martin-d’Hères, France

  • M4398
    Tomographie aux rayons X synchrotron appliquée à la science des matériaux

    Apprenez que la tomographie aux rayons X permet de caractériser en 3D la distribution, la morphologie et la topologie des phases présentes dans un matériau. L’utilisation de cette technique lors d’une sollicitation thermique ou mécanique permet d’observer l’évolution des paramètres en temps réel.

  • M5815
    Caractérisation des structures sandwich

    Le choix de la structure optimale en termes de rigidité, adsorption d’énergie ou encore endommagement, nécessite de bien comprendre l’influence de chaque paramètre, qu’il s’agisse des matériaux comme des dimensions.

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