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Nanométrologie

Nanométrologie dans les ressources documentaires

  • Article de bases documentaires
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  • 10 août 2013
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  • Réf : NM7050

Le microscope à force atomique métrologique

’unités et dédié à la pratique de la nanométrologie dimensionnelle. Sa conception spécifique permet de maîtriser... de la nanométrologie dimensionnelle. Sa conception spécifique permet de maîtriser l’incertitude de mesure... microscopy. Mots-clés : microscopie à force atomique, nanométrologie dimensionnelle, état de l’art,... à la pratique de la nanométrologie dimensionnelle, il est possible d’atteindre des incertitudes de mesure...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 mars 2021
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  • Réf : P2717

CDMS – Spectrométrie de masse à détection de charge

. Le club nanométrologie ( https://club-nanometrologie.fr/ ), dirigé par le Laboratoire National... de nanométrologie. Cette spectrométrie de masse pourrait constituer une rupture technologique vis-à-vis...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 juin 2005
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  • Réf : R1394

Microscopie à force atomique (AFM)

La microscopie à force atomique a connu un développement rapide. La technologie de cette sonde locale, basée sur la mesure des forces entre un fin stylet et la surface étudiée, permet d’imager des surfaces avec une résolution, transversale et verticale, de l’ordre du nanomètre. Sa facilité de mise en œuvre permet même des contrôles sur des lignes de production. Cet article commence par décrire l’...

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