Nanométrologie

La poursuite du développement des nanotechnologies et des nanomatériaux nécessite de pouvoir disposer de résultats de mesure fiables et comparables, perme…

Cet article décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C’est un instrument de référence, traça…

Les microscopies à force atomique - AFM - et électronique à balayage - MEB - sont aujourd’hui des techniques très répandues pour la caractérisation des na…

La microscopie à force atomique a connu un développement rapide. La technologie de cette sonde locale, basée sur la mesure des forces entre un fin stylet…

Les nanotechnologies, comme toute évolution scientifique et technologique, représentent une avancée considérable, cependant leurs expansions présentent au…

La spectrométrie de masse à détection de charge CDMS est une méthode à ion unique où la masse de chaque ion est directement déterminée à partir de mesures…

A l’occasion du 50e anniversaire de l'accréditation des laboratoires d'étalonnage le 1er Juillet 2023 et du 30e anniversaire du Cofrac le 29 avril 2024, c…

La caractérisation des propriétés dimensionnelles des nanoparticules - NP - représente encore aujourd’hui un vrai défi et reste un besoin nécessaire pour…