Caractérisation d'une impulsion ultra-brève

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Caractérisation d'une impulsion ultra-brève

Auteur(s) : Manuel JOFFRE

Date de publication : 10 octobre 2018 | Read in english

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RÉSUMÉ

Cet article porte sur différentes méthodes de caractérisation permettant d'accéder au pro fil temporel d'impulsions ultra-brèves, dont la durée est typiquement comprise entre quelques femtosecondes et quelques picosecondes. Ces méthodes sont soit de nature non stationnaire, soit de nature non linéaire. Dans le premier cas, on utilise le plus souvent une impulsion ultra-brève de référence permettant d'accéder par échantillonnage ou interférométrie à la forme temporelle de l'impulsion mesurée. Dans le second cas, un processus d'optique non-linéaire du deuxième ou du troisième ordre permet d'effectuer une mesure auto-référencée, parfois au moyen d'un algorithme itératif.

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AUTEUR(S)

  • Manuel JOFFRE : Directeur de recherche au CNRS - Professeur à l’École polytechnique Laboratoire d’optique et biosciences École polytechnique, CNRS, INSERM, Université Paris-Saclay, Palaiseau, France

 INTRODUCTION

L’essor spectaculaire des lasers à impulsions ultra-brèves soulève un problème de métrologie très spécifique, dans la mesure où les impulsions lumineuses ainsi produites constituent les événements les plus brefs que l’on sache réaliser. Il n’est donc pas possible d’avoir recours à un phénomène encore plus bref pour caractériser les impulsions toujours plus courtes produites par de tels lasers. Ainsi, les lasers ultra-brefs n’ont pu se développer que de concert avec de nouvelles méthodes de caractérisation, dont cet article fait l’objet.

L’extraordinaire diversité des méthodes conçues lors des dernières décennies ne saurait être traitée ici de manière exhaustive, aussi un certain nombre de choix – parfois arbitraires – ont-ils été nécessaires. Tout d’abord, par impulsion brève ou ultra-brève, on entend une impulsion dont la durée est comprise entre quelques femtosecondes et quelques picosecondes. Pour des impulsions plus longues, on pourra en effet préférer des méthodes de mesure de nature électronique. À l’inverse, le domaine sub-femtoseconde (ou attoseconde ) fait l’objet de méthodes de mesure très spécifiques non développées ici, même si ces méthodes dérivent souvent de concepts qui seront évoqués dans cet article. Par ailleurs, certains aspects comme le contraste de l’impulsion ou la phase de la porteuse par rapport à l’enveloppe ne seront pas discutés, malgré le rôle essentiel qu’ils jouent en particulier dans le domaine de la physique des hautes intensités.

Après un rappel des principes fondamentaux, qui permettront de distinguer deux principales classes de méthodes de mesure, l’article abordera successivement les méthodes dites non stationnaires (le plus souvent linéaires), puis les méthodes dites non linéaires, qui exploitent une non-linéarité optique du second ou du troisième ordre.

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MOTS-CLÉS

optique non linéaire   |   métrologie femtoseconde   |   interférométrie

DOI (DIGITAL OBJECT IDENTIFIER)

https://doi.org/10.51257/a-v1-e6442

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