4. Modèle de susceptibilité en CEM conduite des CI 555 et MCU 68000
La susceptibilité en CEM de notre circuit dépend essentiellement des susceptibilités des composants actifs MOSFET et des deux CI subissant les agressions des sources précédemment analysées. La quantification de cette susceptibilité nécessite la définition des paramètres observables pour évaluer la SdF de chaque composant.
4.1 Paramètre observable pour l’analyse d’IS
Le paramètre observable de notre circuit sous test n’est autre que les quantifiables en sortie des composants actifs CI 555 et MCU 68000 en cours de fonctionnement. En tenant compte de ces CI, pour ce cas d’étude, nous nous intéressons à l’Intégrité de Signal (IS) des sorties V (M 3 ) et ...
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Modèle de susceptibilité en CEM conduite des CI 555 et MCU 68000
Simulation en CEM, IS et IP du cas d’étude de notre circuit
Sources bibliographiques
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