SdF et analyse des effets des tolérances
Méthodologie pour simuler et modéliser une carte électronique en CEM et intégrité du signal

Ajouter à la bibliothèque

E3457 V1 Archive

SdF et analyse des effets des tolérances
Méthodologie pour simuler et modéliser une carte électronique en CEM et intégrité du signal

Auteur(s) : Blaise RAVELO, Sébastien LALLÉCHÈRE

Relu et validé le 29 février 2024 | Read in english

Ajouter à la bibliothèque Ajouter à la bibliothèque

Logo Techniques de l'Ingenieur Cet article est réservé aux abonnés
Pour explorer cet article plus en profondeur Consulter un extrait gratuit

Déjà abonné ?

6. SdF et analyse des effets des tolérances

La SdF de notre circuit est évaluée dans cette section. L’analyse consiste à effectuer le lien entre la variabilité des paramètres clés et les marges sur les amplitudes des signaux de sortie en l’occurrence des deux CI.

6.1 Marges et risques de susceptibilité

La contrainte de susceptibilité de CEM conduite d’un produit dépend de la probabilité de son fonctionnement dans la classe A. Au fur et à mesure que l’état de l’observable s’éloigne du niveau attendu, on peut rapporter une marge ou un risque de défaillance en CEM, et définir un niveau de marge attaché. Après simulation du modèle en CEM de notre preuve de concept, nous devons obtenir des statistiques des sorties des CI. Ces valeurs (e.g. moyennes) dépendent de leurs lois de probabilité. En effet, le...

Cet article est réservé aux abonnés
Logo Techniques de l'Ingenieur

Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.

Cet article est réservé aux abonnés Consulter un extrait gratuit

Déjà abonné ?


Article inclus dans l'offre

"Électronique"

( 494 articles )

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.

Services

Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.

Des modules pratiques

Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.

Des avantages inclus

Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.

Voir le détail de l'offre

Dans les ressources documentaires

Méthodologie de conception en CEM - Couche équipement

L’objectif de cet article est de présenter un état de l’art sur la méthodologie de développement en CEM. ...

Notions de CEM des composants

 La compatibilité électromagnétique (CEM) d’un équipement ou d’un système repose sur les performance...

Ondes radioélectriques dans les milieux absorbants - Effets induits dans un corps cylindrique

L’article traite le problème de la propagation des ondes radioélectriques dans des conducteurs cylindriqu...

Compatibilité électromagnétique - Notions fondamentales

Cet article a pour objectif de rappeler et de fournir les fondamentaux théoriques et pratiques sur la com...

Tous les livres blancs
Toutes les actualités

Inscrivez-vous aux newsletters !

Contactez-nous