Conclusion
Microscopie SEEC : la microscopie optique comme outil de caractérisation nanométrique

Grâce à la mise au point des Surfs, nouvelle génération de lames de microscope, la microscopie optique cantonnée depuis son invention, il y a plusieurs siècles, à l’observation de structures microscopiques ou submicroscopiques se retrouve aujourd’hui propulsée dans le domaine des nanotechnologies jusqu’alors réservé aux techniques de caractérisation à source électronique (MEB, MET…) ou à champ proche (AFM, STM…). Outre son accessibilité, les microscopes optiques présentent plusieurs avantages par rapport aux techniques usuelles de caractérisation nanométrique : analyse en temps réel, en milieu aqueux, en atmosphère contrôlée, large choix de grossissement…

Ces caractéristiques permettent à la technique SEEC de s’imposer petit à petit comme une technique incontournable de caractérisation de nanofilms, nanotubes et nano-objets et ce malgré un support imposé et une...