Caractérisation des propriétés structurales des échantillons
Élaboration et caractérisation de nanocapteurs

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Caractérisation des propriétés structurales des échantillons
Élaboration et caractérisation de nanocapteurs

Auteur(s) : Lamia ROUAÏ, Céline TRAPES

Date de publication : 10 octobre 2006

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3. Caractérisation des propriétés structurales des échantillons

Une fois la technique d’auto-assemblage énoncée et illustrée à travers l’élaboration de monocouches préfonctionnalisées, il s’agit de caractériser l’organisation structurelle de la monocouche sur la surface. Il existe de nombreuses méthodes de caractérisation macroscopiques : les mesures d’angle de contact à l’interface liquide-monocouche (goniométrie), les mesures d’épaisseur de la couche (par ellipsométrie) et de conductivité (mesures courant-tension). Le microscope à force atomique nous permet de visualiser la topographie de la couche avec une précision de l’ordre du dixième de nanomètre.

3.1 Mesure d’angle de contact par goniométrie

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