5. Glossaire
Microscope électronique à balayage (MEB) ; Scanning Electron Microscope (SEM)
Type de microscope électronique qui produit des images d’un échantillon en balayant la surface avec un faisceau focalisé d’électrons. Les électrons interagissent avec les atomes de l’échantillon, produisant divers signaux qui contiennent des informations sur la topographie de surface et la composition de l’échantillon, avec des résolutions spatiales dans la plage du nanomètre.
Ouverture numérique ; Numerical Aperture (NA)
Nombre sans dimension qui caractérise la plage d’angles sur laquelle un système peut accepter ou émettre de la lumière. En incorporant l’indice de réfraction dans sa définition, la NA a la propriété d’être constante pour un faisceau lorsqu’il passe d’un matériau à un autre, à condition qu’il n’y ait pas de puissance de réfraction à l’interface.
Bande...
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Glossaire
Sigles, notations et symboles
Sources bibliographiques
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Article inclus dans l'offre
"Traitements des métaux"
(
173 articles
)
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.
Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.
Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.
Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.
