4. Glossaire
MEB-FEG ; secondary electron microscopy with field emission gun
Technique de microscopie électronique où un faisceau d'électrons est « réfléchi » à la surface d’un échantillon. Elle permet de visualiser la surface d’un échantillon à l’échelle micro- voire nanométrique et peut être couplée à un système d’analyse chimique par EDXS.
EDXS ; Energy Dispersive X-ray Spectrometry
Technique d’analyse chimique semi-quantitative basée sur la détection de photons X émis par l’interaction entre un faisceau d’électrons et l’échantillon. Le signal est analysé en dispersion d’énergie.
MET ; transmission electron microscopy
Technique de microscopie électronique où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince (quelques dizaines de nanomètres). Il existe deux principaux modes de fonctionnement : (i) le mode...
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