Méthodes de caractérisation des nanomatériaux
Produits émetteurs potentiels des particules nanométriques ou submicroniques

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Méthodes de caractérisation des nanomatériaux
Produits émetteurs potentiels des particules nanométriques ou submicroniques

Auteur(s) : Martin MORGENEYER, Christophe BRESSOT

Relu et validé le 17 février 2022 | Read in english

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2. Méthodes de caractérisation des nanomatériaux

La caractérisation des nanomatériaux manufacturés présente de multiples défis : d’une part, il s’agit d’une caractérisation à différentes échelles, à savoir l’échelle macroscopique, échelle à laquelle le nanomatériau est utilisé dans la vie réelle, mais également à l’échelle microscopique ou nanométrique. Les méthodes de caractérisation doivent donc aussi couvrir un très large spectre, allant de tests liés à l’utilisation et au comportement mécanique, tels que des tests de traction, de fracture, de dureté, d’angles de contact, etc, aux tests qui comprennent la microscopie à électrons, particulièrement à balayage électronique, la microscopie à force atomique, la diffraction de neutrons, la diffraction de rayons X, la spectrométrie de fluorescence des rayons X. Les recherches actuelles portent sur la corrélation des comportements à ces différentes échelles.

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