Introduction
Le microscope à force atomique métrologique

Depuis son invention en 1986 par G. Binnig, C.F. Quate et C. Gerber, le microscope à force atomique (AFM, pour atomic force microscope ) est devenu au fil du temps un instrument incontournable pour la nanocaractérisation. Très répandu, il permet de mesurer une grande variété de propriétés de surface (dimensionnelles, mécaniques, électriques, magnétiques…) avec une résolution spatiale nanométrique, voire subnanométrique. Son principe de fonctionnement relativement simple permet d’imager dans des milieux aussi diversifiés que l’air, le vide, les liquides, les milieux biologiques… C’est une des raisons pour laquelle l’AFM trouve aujourd’hui de nombreuses applications dans les laboratoires de recherche, mais aussi dans le secteur industriel où il peut être utilisé pour contrôler la qualité de la production (état de surface de carrosserie automobile,...