Un contexte favorable au développement de la nanométrologie
Le microscope à force atomique métrologique

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Un contexte favorable au développement de la nanométrologie
Le microscope à force atomique métrologique

Auteur(s) : Sébastien DUCOURTIEUX, Benoît POYET

Date de publication : 10 août 2013 | Read in english

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2. Un contexte favorable au développement de la nanométrologie

L’engouement actuel autour des nanomatériaux et le vaste champ d’applications associées s’expliquent par la forte dépendance des propriétés physico-chimiques des nano-objets avec leurs dimensions et leur morphologie. Pour une application particulière, il est ainsi possible de concevoir « à la carte » un nano-objet répondant à une propriété fonctionnelle spécifique (électronique, magnétique, optique, thermodynamique, mécanique…). Ces développements font cependant face à un nombre important de verrous technologiques et de problèmes spécifiques liés aux dimensions nanométriques (1-100 nm) de ces structures. L’idée communément répandue dans le domaine des nanosciences et nanotechnologies est que la rupture technologique à laquelle les industriels doivent faire face se situe au niveau de la fabrication. En réalité, dans de nombreux secteurs, élaborer des dispositifs et des matériaux de plus...

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