Méthodes d’ajustement global du diffractogramme
Caractérisation des matériaux polycristallins par diffraction des rayons X

Ajouter à la bibliothèque

P1080 V3 Article de référence

Méthodes d’ajustement global du diffractogramme
Caractérisation des matériaux polycristallins par diffraction des rayons X

Auteur(s) : Sandrine TUSSEAU-NENEZ, Sophie NOWAK

Date de publication : 10 avril 2026 | Read in english

Ajouter à la bibliothèque Ajouter à la bibliothèque

Logo Techniques de l'Ingenieur Cet article est réservé aux abonnés
Pour explorer cet article plus en profondeur Consulter un extrait gratuit

Déjà abonné ?

8. Méthodes d’ajustement global du diffractogramme

On ne peut appliquer les méthodes pic par pic (§  7 ) que sur des phases pures ou sur des mélanges où il n’y a pas de superposition des raies, ce qui limite leur usage....

Cet article est réservé aux abonnés
Logo Techniques de l'Ingenieur

Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.

Cet article est réservé aux abonnés Consulter un extrait gratuit

Déjà abonné ?


Article inclus dans l'offre

"Techniques d'analyse"

( 389 articles )

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.

Services

Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.

Des modules pratiques

Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.

Des avantages inclus

Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.

Voir le détail de l'offre

Dans les ressources documentaires

Texture et anisotropie des matériaux polycrystallins - Diffraction RX, rayonnement synchrotron et neutrons

La texture cristallographique est la statistique des orientations des cristallites d’un polycristal. Cet ...

Résolution d’une structure cristalline par rayons X

Avant de décrire les différentes phases de la résolution d’une structure, il est bon de rappeler que le m...

Tous les livres blancs
Toutes les actualités

Inscrivez-vous aux newsletters !

Contactez-nous