Préparation des échantillons
Caractérisation des matériaux polycristallins par diffraction des rayons X

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Préparation des échantillons
Caractérisation des matériaux polycristallins par diffraction des rayons X

Auteur(s) : Sandrine TUSSEAU-NENEZ, Sophie NOWAK

Date de publication : 10 avril 2026 | Read in english

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3. Préparation des échantillons

Avant d’aborder la partie sur le traitement des données, il est nécessaire de faire un point sur la qualité des mesures. Dans un diffractogramme, trois paramètres sont utilisés pour décrire les pics de diffraction :

  • la position ;

  • l’intensité ;

  • le profil de raie (largeur, forme et asymétrie).

Il est donc important d’éviter toute erreur qui impacterait ces éléments, même si l’on peut parfois faire des corrections post-mesure avec les logiciels d’analyse.

3.1 Critères à surveiller lors de la préparation de l’échantillon

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