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Analyse de la perte de couleur des peintures au smalt par spectroscopie d'absorption X
RE211 v1 RECHERCHE ET INNOVATION

Analyse de la perte de couleur des peintures au smalt par spectroscopie d'absorption X

Auteur(s) : Laurianne ROBINET, Nicolas TRCERA, Sandrine PAGÈS-CAMAGNA, Marika SPRING, Solenn REGUER

Date de publication : 10 oct. 2012 | Read in English

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1 - Contexte

2 - Spectroscopie d'absorption des rayons X utilisant le rayonnement synchrotron

3 - Analyse de la perte de couleur du pigment smalt dans les peintures du XVI au XVIIIe siècle

4 - Conclusion

Sommaire

Présentation

RÉSUMÉ

Les modifications chimiques liées à la perte de couleur du pigment smalt dans les peintures historiques ont été analysées par la spectroscopie d'absorption des rayons X utilisant le rayonnement synchrotron. La taille micronique du faisceau de rayons X et la gamme d'énergie étendue offertes par les lignes de lumière LUCIA et DiffAbs du synchrotron SOLEIL ont été déterminantes pour sonder individuellement les grains de smalt dans des microprélèvements de peintures provenant des collections de la National Gallery (Londres) et du musée du Louvre (Paris). Les spectres XANES et EXAFS enregistrés au seuil K de l'ion colorant cobalt ont révélé que ce changement de couleur était associé au changement de coordinance du cation.

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Auteur(s)

  • Laurianne ROBINET : Ingénieure de recherche sur la plateforme IPANEMA du synchroton SOLEIL - (actuellement Ingénieure de recherche du ministère de la culture au Centre de Recherche sur la conservation des Collections (CRCC), USR 3224 du CNRS, Museum national d'histoire naturelle)

  • Nicolas TRCERA : Scientifique sur la ligne LUCIA du synchrotron SOLEIL

  • Sandrine PAGÈS-CAMAGNA : Ingénieure de recherche du ministère de la culture au Centre de Recherche et de Restauration des Musées de France (C2RMF)

  • Marika SPRING : Scientifique à la National Gallery à Londres

  • Solenn REGUER : Scientifique sur la ligne DiffAbs du synchrotron SOLEIL

INTRODUCTION

Points clés

Domaine : Technique d'analyse synchrotron

Degré de diffusion de la technologie : Émergence | Croissance | Maturité

Technologies impliquées : Spectroscopie d'absorption X

Domaines d'application : Analyse chimique d'œuvres patrimoniales

Principaux acteurs français :

Pôles de compétitivité :

Centres de compétence :

Industriels :

Autres acteurs dans le monde :

Contact : http://www.synchrotron-soleil.fr/ipanema

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-re211

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Sommaire
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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - KRAUSE (M.O.) -   Atomic radiative and radiationless yields for K and L shells.  -  J. Phys. Chem. Data, vol. 8, no 2, p. 307 (1979).

  • (2) - TAILLEFUMIER (M.), CABARET (D.), FLANK (A.-M.), MAURI (F.) -   X-ray absorption near-edge structure calculations with the pseudopotentials : Application to the K edge in diamond and α−quartz.  -  Phys. Rev. B, 66, p. 195107 (2002).

  • (3) - JOLY (Y.) -   X-ray absorption near-edge structure calculations beyond the muffin-tin approximation.  -  Phys. Rev. B, 63, p. 125120 (2001).

  • (4) - STERN (E.A.), SAYERS (D.E.), LYTLE (F.W.) -   Extended x-ray-absorption fine-structure technique. III. Determination of physical parameters.  -  Phys. Rev. B, 11, p. 4836 (1975).

  • (5) - SAYERS (D.E.), STERN (E.A.), LYTLE (F.W.) -   New technique for investigating noncrystalline structures : Fourier Analysis of the extended X-ray-absorption fine structure.  -  Phys Rev. Lett., 27, p. 1204 (1971).

  • ...

1 Sites Internet

Synchrotron SOLEIL http://www.synchrotron-soleil.fr

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2 Outils Logiciel

Logiciel Athena, Newville M., IFEFFIT : interactive XAFS and FEFF fitting, J. Synchrotron Rad. 8, 322, 2001.

Logiciel Cherokee http://www.icmpe.cnrs.fr/spip.php?article578

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