Mesures sans contact - Méthodes optiques (partie 1)

Référence R1332 | Date de publication : 10 juin 2004 | Jean‐Louis CHARRON

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SOMMAIRE de l'article

Introduction

1 - Sources et détecteurs : généralités
- 1.1 - Source lumineuse
- 1.2 - Détecteurs
2 - Triangulation
- 2.1 - Capteur unidirectionnel
- 2.2 - Mesure bidimensionnelle. Relevé de profil
- 2.3 - Mesure tridimensionnelle par triangulation optique
3 - Épiscopie, vision industrielle. Réflexion, diffusion
- 3.1 - Épiscopie, vision industrielle
- 3.2 - Réflexion, diffusion
- 3.3 - Triangulation par réflexion
4 - Ombroscopie, diascopie
- 4.1 - Utilisation d’une nappe ou d’un faisceau parallèle statique
- 4.2 - Utilisation d’un éclairage diffus
- 4.3 - Utilisation d’un balayage d’un faisceau laser

Jean‐Louis CHARRON :
Ingénieur au Centre technique des industries mécaniques (CETIM).

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INTRODUCTION

Ces méthodes optiques de mesures dimensionnelles sans contact conduisent généralement à la réalisation de capteurs peu coûteux. Elles ont une large diffusion dans le domaine de la mécanique où on les trouve sous la forme de simple détecteur tout ou rien utilisé pour automatiser des machines, pour un coût plus élevé, elles sont rencontrées sous la forme de capteur mesurant unidimensionnel simple. Les systèmes les plus complexes permettent d’effectuer des mesures tridimensionnelles. Dans la plupart des cas, elles sont simples à mettre en œuvre et leur principe de fonctionnement n’est jamais très complexe.

Nota :

Cet article s’inscrit dans une série consacrée aux capteurs de mesures dimensionnelles sans contact :

Mesures sans contact. Généralités Mesures sans contact- Généralités ;
Mesures sans contact. Méthodes magnétiques et capacitives Mesures sans contact- Méthodes magnétiques et capacitives ;
Mesures sans contact. Méthodes optiques (partie 1) [R 1 332] ;
Mesures sans contact. Méthodes optiques (partie 2) Mesures sans contact- Autres méthodes ;
Mesures sans contact. Autres méthodes Mesures sans contact- Autres méthodes ;