Frédéric LAFON

L’étude de la compatibilité électromagnétique d’un équipement requiert une méthodologie perfectionnée et des outils de modélisation. Exemple est pris d’un circuit imprimé et de l’étude de l’impact du format, du nombre de couches, du placement des filtrages et de la gestion des bords de carte.

L’étude de la compatibilité électromagnétique d’un équipement requiert une méthodologie perfectionnée et des outils de modélisation. Exemple est pris d’un circuit imprimé. Sont abordés entre autres l’impact du format, du nombre de couches, du placement des filtrages et de la gestion des bords de carte.

Le problème spécifique posé par l’obsolescence rapide des composants électroniques est le besoin de garantir les exigences de CEM d’un équipement électronique quel que soit le changement de composant apporté. Et comment alors limiter les reprises de tests CEM normatifs et les coûts qu’ils génèrent ?

La compatibilité électromagnétique doit maintenant être étudiée au niveau du composant. Découvrez comment mesurer les émissions et surtout modéliser l'immunité des circuits intégrés. 

Aborder la compatibilité électromagnétique et radioélectrique d’électroniques reliées reste complexe, surtout si les structures sont exposées par surcroît à un environnement radiatif naturel. Une approche consiste à découper le système en couches de complexité réduite et d’en établir une matrice d’interaction.

Compatibilité électromagnétique des composants (CEM) : évolution des technologies de fabrication vers les dimensions nanométriques, mesures normalisées applicables aux composants, modélisation et étude du cas de l'émission conduite d'un microcontrôleur.