Étienne SICARD

La simulation numérique est devenue un outil indispensable pour valider des systèmes, leur propriété ou leur durée de vie. Parmi les différentes méthodes de modélisation, le modèle IBIS est particulièrement adapté à la simulation de l'intégrité du signal au niveau des circuits imprimés.

Ensemble des notions de base sur la compatibilité électromagnétique (CEM). Plus particulièrement, la méthode de Kron permettra à tout ingénieur d'évaluer des problèmes de CEM déjà complexes et qui ne seraient pas, ou très difficilement, calculables par l'intermédiaire des outils disponibles sur le marché.

Compatibilité électromagnétique des composants (CEM) : évolution des technologies de fabrication vers les dimensions nanométriques, mesures normalisées applicables aux composants, modélisation et étude du cas de l'émission conduite d'un microcontrôleur.

La compatibilité magnétique s'applique aujourd'hui également au niveau des circuits et des composants mêmes. Cet article explicite les émissions produites par les circuits intégrés et leur susceptibilité. Il détaille les différentes méthodes de mesure de ces phénomènes, et présente un modèle, appelé ICEM pour Integrated Circuit Electromagnetic Model, permettant de simuler ces phénomènes. Enfin les éléments logiciels défensif, qui augmentent la robustesse du système, sont présentés.