Test des ensembles à base de VLSI

   Terminologie

   1 Introduction

   1.1 Historique

   1.2 Que contient cet article?

   2 Ensembles à tester

   2.1 Le problème

   2.2 Hiérarchie et diversité des ensembles à tester

   2.3 Types de défauts à détecter

   2.4 Environnement à respecter

   2.5 Plan de test

   3 Méthodes et moyens de test

   3.01 Préambule

   3.02 Testabilité

   3.03 Conception pour le test

   3.04 Moyens d'accès aux unités à tester

   3.05 Méthodes d'autotest

   3.06 Modélisation des défauts

   3.07 Génération des tests déterministes

   3.08 Couverture d'un test

   3.09 Formats de description des tests

   3.10 Diagnostic des ensembles électroniques

   3.11 Diagnostic des puces par SEM

   3.12 Systèmes de tests et testeurs

   3.13 Aspects économiques du test

   Documentation