Test des VLSI numériques

   Terminologie

   Introduction

   1 Conception des VLSI pour le test et le diagnostic

   1.1 Testabilité

   1.11 Test de la fonctionnalité

   1.12 Test de production

   1.2 Méthodes

   1.3 Génération des tests

   1.31 Test fonctionnel

   1.32 Test structurel

   1.33 Test des circuits séquentiels et des mémoires

   1.4 Moyens mis en œuvre dans les VLSI

   1.41 Chemin d'accès par registre à décalage (scan path)

   1.42 Autotest et BILBO

   1.43 Autotest d'une mémoire RAM intégrée dans un VLSI

   1.44 Motifs pour le diagnostic par testeur à faisceau d'électrons

   1.45 Dispositifs pour les tests de performance

   2 Outils de test et de mise au point

   2.1 Stations de mise au point

   2.2 Testeur à faisceau d'électrons

   2.21 Principe utilisé

   2.22 Test par contraste de potentiel

   2.23 Testeur dynamique à faisceau d'électrons

   2.3 Testeurs de VLSI

   2.31 Description d'un centre de test

   2.32 Caractéristiques d'un testeur de VLSI

   2.33 Principaux testeurs industriels et leurs spécificités

   2.34 Évolution probable des testeurs de VLSI

   3 Test industriel des VLSI

   3.1 Différents tests dans un cycle de production de VLSI

   3.11 Test des motifs de surveillance du procédé

   3.12 Test des VLSI sur la plaquette de silicium

   3.13 Test après montage en boîtier

   3.14 Test après vieillissement. Relation entre test et fiabilité

   3.2 Aspect économique

   3.21 Coût de développement des tests

   3.22 Coût d'exécution des tests de production

   3.23 Relation exhaustivité des tests-coûts

   4 Conclusion

   5 Tendances et perspectives d'avenir

   Documentation