1 - SOURCES ET DÉTECTEURS : GÉNÉRALITÉS

• 1.1 - Source lumineuse
  Figure 1 - Variation du diamètre (défini comme la distance à l’axe pour laquelle l’éclairement représente 1/e2 fois l’éclairement sur l’axe) d’un faisceau laser focalisé en fonction de la distance Figure 2 - Variation de l’éclairement dans la section d’un faisceau laser TEM00
• 1.2 - Détecteurs
  Figure 3 - Exemples illustrant la diversité de comportement des surfaces éclairées Figure 4 - Schéma d’une photodiode Figure 5 - Schéma d’une cellule à quatre quadrants Figure 6 - Schémas de cellules PSD

2 - TRIANGULATION

• 2.1 - Capteur unidirectionnel
  Figure 8 - Schéma d’un capteur de déplacement par triangulation Figure 9 - Schéma d’un capteur linéaire Figure 10 - Schéma de capteurs ayant plusieurs axes de détection de la lumière diffusée
• 2.2 - Mesure bidimensionnelle. Relevé de profil
  Figure 11 - Schéma d’un système de mesure bidimensionnel, la ligne de mesure est dans le plan de triangulation Figure 12 - Schéma d’un système de mesure bidimensionnel, la ligne de mesure est dans le plan perpendiculaire au plan de triangulation Figure 13 - Capteur bidimensionnel utilisant deux caméras pour mesurer le profil de la pièce (source : Kréon)
• 2.3 - Mesure tridimensionnelle par triangulation optique
  Figure 14 - Schéma d’un système de mesure tridimensionnelle par triangulation utilisant deux déviateurs acousto‐optiques pour désigner les points à mesurer (source : CETIM) Figure 15 - Projection de trame en lumière blanche (source : GF Messtechnik GmbH)

3 - ÉPISCOPIE, VISION INDUSTRIELLE. RÉFLEXION, DIFFUSION

• 3.1 - Épiscopie, vision industrielle
  Figure 16 - Mesures par pointés sur bord de pièce Figure 17 - Mesure des dimensions d’éléments dans le champ de l’image mesurée (la caméra et le système de vision)
• 3.2 - Réflexion, diffusion
  Figure 18 - Schéma de principe d’un capteur de déplacement à réflexion Figure 19 - Variation de l’intensité mesurée en fonction de la distance pour un capteur non compensé Figure 20 - Schéma d’un capteur de déplacement par réflexion compensé Figure 21 - Variation de l’intensité mesurée par chaque réseau de fibre de réception et de la sortie calculée Figure 22 - Schéma de principe du capteur unidirectionnel par triangulation par réflexion
• 3.3 - Triangulation par réflexion

4 - OMBROSCOPIE, DIASCOPIE

• 4.1 - Utilisation d’une nappe ou d’un faisceau parallèle statique
  Figure 23 - Comparaison entre les différentes méthodes de répartir la lumière en ombroscopie Figure 24 - Mesure directe d’une pièce par ombroscopie avec un détecteur CCD Figure 25 - Ombroscopie : influence de l’étendue de la source sur la brutalité de la transition du noir au blanc Figure 26 - Influence de la diffraction par le bord d’un écran sur l’éclairement au voisinage de l’ombre géométrique Figure 27 - Mesures de la position du bord d’une pièce et de la distance entre deux cylindres
• 4.2 - Utilisation d’un éclairage diffus
  Figure 28 - Ombroscopie : utilisation d’un éclairage diffus
• 4.3 - Utilisation d’un balayage d’un faisceau laser
  Figure 29 - Ombroscopie : dispositif utilisant le balayage d’un faisceau laser Figure 30 - Ombroscopie utilisant le balayage d’un faisceau laser : variation de la répétabilité en fonction du nombre de mesures moyennées Figure 31 - Exemples de mesures réalisées par ombroscopie Figure 32 - Exemples de mesures sur des produits transparents ou semi‐transparents