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Photonique

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  • ARTICLE INTERACTIF
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  • 10 mai 2024
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  • Réf : N4420

Verres et fibres optiques contenant des nanoparticules pour la photonique

Depuis la première vitrocéramique dans les années 1950, l’intérêt pour la structuration du verre à une échelle micro et nanométrique n’a cessé de croître. En particulier, la présence d'hétérogénéités en composition et structure s'est révélée particulièrement féconde pour obtenir de nouvelles propriétés optiques. Cet article s'intéresse plus particulièrement au cas des verres et des fibres optiques contenant des nanoparticules. Il porte principalement sur les principaux procédés de fabrication et de caractérisation de tels matériaux ainsi que leurs différentes applications telles que les lasers et les capteurs.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 déc. 2024
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  • Réf : R6738

Endommagement laser des composants optiques

La montée en puissance et la durée de vie des systèmes lasers sont souvent limitées par l’endommagement laser causé aux composants optiques : sous flux laser élevé, des modifications irréversibles peuvent apparaître, induisant une perte des performances optiques, voire une destruction du composant. Cette problématique, étudiée depuis l’invention du laser, suit étroitement les évolutions technologiques du domaine. Cet article présente les principaux mécanismes physiques pouvant conduire à la dégradation d’une optique soumise à un flux laser, en s’intéressant à l’influence des paramètres laser et à la conception et la fabrication des composants sur l’endommagement. Il décrit les méthodes de mesure de la tenue au flux laser pour évaluer les limites opérationnelles dans le cadre d’une application donnée.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 sept. 2025
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  • Réf : R6747

L’analyse combinée XRR-GIXRF sans référence pour les couches minces

La propriété des éléments à émettre un rayonnement caractéristique, suite à une excitation par rayons X ou fluorescence X, est exploitée à des fins de quantification. Les équations décrivant cette interaction lumière-matière sont rappelées, ainsi que les conditions expérimentales nécessaires pour s’affranchir du besoin d’étalons de référence. La fluorescence X peut aussi être exploitée en la combinant avec la réflectivité X pour l’étude des couches minces d’épaisseur nanométrique. L’approche présentée ici exploite les données fondamentales dont les enjeux de justesse et d’incertitudes associés sont abordés dans un souci métrologique. 

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