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KFM

KFM dans les ressources documentaires

  • Article de bases documentaires
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  • 10 août 2012
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  • Réf : E1990

Matériaux semiconducteurs à grand gap : le carbure de silicium (SiC)

transistors  ; le facteur de mérite de Keyes ou KFM ( Keyes Figure of Merit ) pour estimer...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 déc. 2016
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  • Réf : R1084

Techniques de mesure de grandeurs électriques adaptées aux nanocircuits

les mesures de capacité (SCM, SMM) et de gradients de force électrostatique (EFM, KFM). Des prospectives...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 juin 2022
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  • Réf : R6719

Détection et contrôle de la ferroélectricité à l’échelle nanométrique

Cet article présente les techniques capables de détecter et de modifier la polarisation ferroélectrique à l’échelle nanométrique dans les matériaux monocristallins ou déposés en couches minces, en mettant l’accent sur l’une d’entre elles : la microscopie de force piézoélectrique (PFM), dérivée de la microscopie à force atomique (AFM). La technique y est décrite en détails : ses di...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.


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