L’étude des dispositifs électromagnétiques et optiques englobe souvent une estimation de leurs propriétés de réflexion, de transmission et d’absorption. Ces propriétés sont liées à leur structure interne, ainsi qu’à leur géométrie et aux matériaux qui les composent. Des logiciels sophistiqués ont été développés depuis de nombreuses années pour calculer ces propriétés, ainsi que des systèmes de mesure coûteux pour les caractériser expérimentalement.
Cependant, ces logiciels et ces systèmes de mesure sont relativement complexes à mettre en œuvre et, dans la phase de design des systèmes, il est souvent utile de disposer de méthodes rapides d’évaluation des performances de ces dispositifs. C’est ce qui est proposé ici dans le cadre des quadripôles électriques et des matériaux électromagnétiques et optiques.
En électromagnétisme, l’ingénieur est souvent confronté à des dispositifs complexes qui associent à la fois des composants électroniques et des matériaux diélectriques ou magnétiques. En optique, on trouvera souvent des assemblages de plusieurs dispositifs dont il faudra estimer rapidement les propriétés de transmission et de réflexion. Dans les deux cas, les méthodes basées sur les matrices de diffusion et de transmission permettent d'obtenir une estimation rapide relativement précise de ces propriétés, ce qui est illustré dans les différents exemples proposés dans cet article.
Le lecteur trouvera en fin d’article un glossaire des expressions et des termes importants de l’article, ainsi qu’un tableau des symboles utilisés.